Szybki mikrometr Keyence
Redakcja serwisu print
Keyence oferuje szybki, precyzyjny mikrometr o częstotliwości próbkowania 16 kHz z innowacyjnym systemem optycznym.
Co wyróżnia nowy mikrometr Keyence? Jakie specyficzne cechy posiada to urządzenie w porównaniu do poprzednich rozwiązań producenta?
Ruchome części wyeliminowane
W konwencjonalnych mikrometrach zazwyczaj wykorzystuje się technologię skanowania laserowego, wymagającą zastosowania elementów ruchomych ograniczających szybkość i dokładność pomiaru. Mikrometry systemu serii LS-9000 zawierają trzy czujniki CMOS i zielone źródło światła LED. Brak elementów mechanicznych zapewnia tu dłuższy czas bezawaryjnej pracy oraz większą dokładność i szybkość pomiaru.
Lepszy pomiar dzięki trzem czujnikom CMOS
Efektywność pomiarów mikrometru zwiększają trzy wbudowane czujniki CMOS. Pierwszy z nich realizuje właściwy pomiar. Drugi odpowiada za kompensację nachylenia mierzonego obiektu. Nachylenie, spowodowane dużymi wibracjami lub złym pozycjonowaniem jest częstym problemem występującym na zautomatyzowanych liniach produkcyjnych.
Trzeci czujnik identyfikuje położenie obiektu umieszczonego pomiędzy emiterem i odbiornikiem. Unikalną na rynku cechą jest możliwość regulacji płaszczyzny ogniskowej pozwalająca osiągnąć bardzo dużą dokładność i powtarzalność pomiaru (0,1 µm dla modelu standardowego i 0,03 µm dla modelu o dużej powtarzalności).
Mocne źródło LED
Do zalet zielonego źródła światła LED należy dłuższa żywotność od konwencjonalnych źródeł LED i emisja jednorodnej wiązki światła o dużej intensywności. Duża intensywność źródła LED eliminuje problemy z degradacją wiązki lasera, typowe dla konwencjonalnych systemów.
Ponadto, do generacji strumienia światła nie są potrzebne żadne części ruchome, co eliminuje problemy ze zużyciem mechanicznym silnika i systemu luster, wymagające ich wymiany lub przynajmniej regularnej kalibracji. Czynności serwisowe mogą być dzięki temu przeprowadzane dopiero po długim okresie użytkowania mikrometru.
Częstotliwość próbkowania 16.000 Hz
Częstotliwość próbkowania, wynosząca 16.000 Hz w przypadku serii LS-9000 zapewnia znacznie większą szybkość pomiarową od przyrządów poprzedniej generacji charakteryzujących się częstotliwością próbkowania 2400 Hz oraz od przyrządów konkurencyjnych o maksymalnej częstotliwości 3600 Hz.
Zintegrowanie obwodów peryferyjnych szybkiego czujnika CMOS w pojedynczym chipie znacznie poprawiło współczynnik sygnału do szumu i pozwoliło zapewnić dużą szybkość próbkowania w przypadku serii LS-9000. Dla przykładu, obiekt przemieszczający się z szybkością 1000 m/min może być analizowany przy podziałce około 1 µm.
Mała średnica przewodów
W przypadku serii LS-9000 zastosowanie wysokiej jakości modułów elektronicznych i optycznych pozwala na pomiar kabli, przewodów, a nawet włókien optycznych o średnicy już od 10 µm, podczas gdy w przypadku poprzednich wersji było to 40 µm. W zależności od zastosowanego modelu mikrometru zakres pomiarowy systemu LS-9000 wynosi od 0,04 mm do 6 mm przy powtarzalności 0,03 μm lub od 0,3 mm do 30 mm przy powtarzalności 0,1 μm. Osiągana dokładność wynosi ±0,5 μm dla zakresu pomiarowego 6 mm i ±2 μm dla zakresu pomiarowego 30 mm.
Wytrzymała konstrukcja
Obok zaawansowanych możliwości pomiarowych i dużej powtarzalności, system LS-9000 zapewnia też stabilność pomiarów w trudnych warunkach pracy. W obudowie o stopniu ochrony IP67 zamontowano system oczyszczania powietrza eliminujący wszelkie zanieczyszczenia w postaci wody, kurzu czy mgły olejowej. Co więcej, innowacyjna odlewana obudowa jest odizolowana mechanicznie od wewnętrznej jednostki optycznej, eliminując wpływ zmian temperatury na wynik pomiaru.
Przyjazne oprogramowanie
Każdy mikrometr wchodzący w skład serii LS-9000 jest dostarczany wraz z opracowanym przez firmę Keyence oprogramowaniem konfiguracyjnym dla komputerów PC, ułatwiającym jego dostosowanie do wymogów poszczególnych aplikacji pomiarowych. W okienku na ekranie prezentowany jest obraz mikrometru, a użytkownik za pomocą myszki wybiera poszczególne parametry konfiguracyjne.
Po zmianie są one zapisywane w pamięci. Oprogramowanie udostępnia 12 niezależnych narzędzi graficznych pozwalających uzyskać dostęp do interesujących użytkownika parametrów. Istnieje możliwość zapisu do 400 tys. punktów pomiarowych i ich eksportu do arkusza kalkulacyjnego Excel.
source: Keyence