NIDays 2014
Katarzyna Jakubek drukuj
Najnowsze technologie i trendy w dziedzinie pomiarów, zautomatyzowanych testów, wbudowanych systemów kontrolno-pomiarowych. Te zagadnienia poruszane były w trakcie minionej konferencji firmy National Instruments – NIDays 2014.
Ponad 300 gości zarówno przedstawicieli przemysłu jak i nauki, 30 prezentacji technicznych, wystawy sprzętu firm partnerskich, bezpłatny egzamin Certified LabVIEW Associate Developer, tak w skrócie można podsumować coroczną konferencję firmy National Instruments, która odbyła się 29 października w Warszawie.
W czasie NIDays, w ramach kilku ścieżek tematycznych, eksperci bazując na swoim doświadczeniu zaprezentowali rozwiązania dla wielu gałęzie przemysłu, w tym roku najbardziej interesujące rozwiązania prezentowane były dla branży lotniczej. Również przedstawiciele akademiccy przedstawili swoje innowacyjne aplikacje opracowane przy użyciu narzędzi do graficznego projektowania systemów. Natomiast inżynierowie z firmy National Instruments zaprezentowali możliwości najnowszych produktów i rozwiązań z dziedziny pomiarów, zautomatyzowanych testów, wbudowanych systemów kontrolno-pomiarowych oraz aplikacji.
W czasie całodniowego spotkania nie zabrakło informacji o nowościach produktowych prezentowanych przez National Instruments. Jak co roku zaprezentowano najnowsze funkcje w LabView 2014, swoją polską premierę miały produkty: VirtualBench, CompactRIO, CompactDAQ oraz najnowsze oprogramowanie NI InsightCM.
Więcej informacji o spotkaniu oraz najnowszych produktach już wkrótce.
Słowa kluczowe
national instruments, nidays 2014, pomiary, systemy wbudowane, urządzenia testujące
Komentarze
blog comments powered by Disqus