Nowa generacja rozwiązań NIDAYS 2016

W bieżącym roku konferencja NIDays odbyła się w dniu 11 października w hotelu Marriott w Warszawie. Organizator, firma National Instruments jak zwykle zadbała o kompleksową prezentację najnowszych rozwiązań i trendów z dziedziny pomiarów, automatyki oraz inteligentnych systemów sterowania i akwizycji danych. W konferencji uczestniczyło wielu przedstawicieli środowiska technicznego i naukowego – w programie znalazły się prezentacje wygłaszane przez specjalistów z całego świata.

Podczas NIDays, w ramach kilku ścieżek tematycznych, eksperci reprezentujący różne gałęzie przemysłu oraz pracownicy akademiccy przedstawili swoje najciekawsze rozwiązania opracowane za pomocą narzędzi do graficznego projektowania systemów.

Jednym z wielu punktów programu tegorocznego wydarzenia były prezentacje na temat współczesnych trendów w przemyśle. Mike Watts przedstawiciel National Instruments (NI) omówił zmiany, które wpłyną na przyszłość branży zautomatyzowanych testów. Wyróżnił pięć technologii usprawniających zautomatyzowane testy, do których należą znaczne udoskonalenia procesorów, szybkich interfejsów komunikacji, konwerterów danych, układów FPGA oraz zarządzania analogowym Big Data. Wprowadzanie tych usprawnień skutkuje modyfikacją zadań stawianych inżynierom testowania. Wykorzystując je w odpowiedni sposób inżynierowie mogą obniżać koszty i czas testów aby wypracować przewagę swojej firmy nad konkurencją.

W czasie konferencji, przedstawiciele NI po raz pierwszy zaprezentowali oprogramowanie systemów kontrolno-pomiarowych nowej generacji. Dużym zainteresowaniem uczestników konferencji cieszyły się prezentacje wdrożeń – m.in. testowanie komponentów samochodowych, prototypowanie protokołów komunikacji, pomiary parametrów układów elektromechanicznych, sterowanie maszynami i wiele innych.

Wśród najciekawszych produktów i technologii omawianych w czasie konferencji były między innymi systemy deterministycznych sieci opartych na protokole Ethernet (Time-Sensitive Networking), oprogramowanie do predykcyjnego utrzymania ruchu obiektów wirujących (NI InsightCM) czy wektorowy transceiver sygnałów, charakteryzujący się pasmem przenoszenia o szerokości 1 GHz i programowalnym układem FPGA, pozwalającym na bezpośrednią implementację własnych algorytmów DSP.

W sekcji wystawienniczej, licznie odwiedzanej przez gości NIDays, zaprezentowane zostały konkretne rozwiązania, m.in. monitorowanie stanu maszyn, testowanie systemów transmisji bezprzewodowej czy projektowanie radarów samochodowych.

Jedną z ciekawostek był łazik marsjański Raptors – zaprojektowany i zbudowany przez studencki multidyscyplinarny zespół z Politechniki Łódzkiej – zdobywca piątego miejsca na tegorocznych międzynarodowych zawodach University Rover Challenge w USA. W celu optymalizacji tworzenia aplikacji sterującej oraz zapewnienia intuicyjnego kierowania robotem projektanci połączyli LabVIEW z Robot Operating System (ROS).

Wzorem lat ubiegłych konferencji towarzyszyły warsztaty. W tym roku poświęcone zostały czterem wątkom tematycznym: automatyzacji testów układów elektronicznych, projektowaniu wbudowanego systemu kontrolno-pomiarowego, przetwarzaniu danych i błyskawicznemu generowaniu raportów oraz prototypowaniu transceivera OFDM na radiu definiowanym programowo.

Uczestnicy mieli okazję do zapoznania się z najnowszą wersją oprogramowania LabView, przetestowania nowych funkcjonalności, poznania nowych produktów NI oraz poszerzenia posiadanej wiedzy technicznej poprzez bezpośrednie zadawanie pytań inżynierom firmy.

Tak jak w poprzednich latach programiści i inżynierowie mieli możliwość wysłuchania prezentacji przygotowującej do egzaminu CLD (Certified LabVIEW Developer) i egzaminu CLAD (Certified LabVIEW Associate Developer). Uzyskane certyfikaty potwierdzają znajomość programowania w środowisku LabView na różnych poziomach zaawansowania. Prelegenci skupili się na omówieniu szczegółów egzaminu – poczynając od jego treści, przez sposób oceny, a skończywszy na przydatnych wskazówkach, które mogą pomóc w osiągnięciu pozytywnego rezultatu. Po sesji uczestnicy otrzymali kupony pozwalające na bezpłatne przystąpienie do egzaminu CLAD.

źródło: Automatyka 12/2016