Pomiar grubości powłok z Oxford Instruments

Pomiar grubości powłok oparty na fluorescencji rentgenowskiej (XRF) to powszechnie przyjęta i przemysłowo sprawdzona technika analityczna, oferująca łatwą w użyciu, szybką i nieniszczącą analizę. Nie wymaga ona przygotowywania próbki lub wymaga jej jedynie w niewielkim stopniu.

MAXXI 6 jest w stanie analizować ciała stałe i ciecze w szerokim zakresie elementów. W połączeniu z wysokorozdzielczym detektorem SDD może mierzyć powłoki z nanometryczną dokładnością oraz określać skład elementów na poziomie śladowym, co wykorzystywane jest np. w przemyśle galwanotechnicznym i produkcji płytek obwodów drukowanych.

Osiem wymiennych kolimatorów całkowicie spełnia potrzeby związane z zakresem zastosowań, a detektor SDD gwarantuje optymalną wydajność na wszystkich poziomach zdolności rozdzielczej aż do 140 eV. Przy nieograniczonym wyborze elementów i struktur powierzchni do pomiaru grubości i analizy składu MAXXI 6 zawsze zapewnia wysoką jakość badania w sektorze wykończenia elementów metalowych, elektroniki, testów zgodności, stopów metali i energii alternatywnych.

Oxford Instruments projektuje, dostarcza i wspiera nowoczesne narzędzia i systemy, skupiając się na badaniach i zastosowaniach przemysłowych. Oferuje rozwiązania udoskonalające zasadnicze badania fizyczne i ich późniejsze przystosowanie do komercyjnych zastosowań nanotechnologicznych.

www.oxford-instruments.com/maxxi6

źródło: Oxford Instruments