Profilografy nowej serii LJ-V – przełom technologiczny w swojej klasie

Niestety, w wielu przypadkach przeprowadzenie tego typu kontroli było dotąd niemożliwe ze względu na różnice szybkości linii produkcyjnej i szybkości pomiaru oraz zbyt skomplikowaną implementację. Nowe profilografy serii LJ-V eliminują oba te problemy. Co więcej, zapewniają dużą stabilność pomiaru niezależną od szybkości linii produkcyjnej, dzięki opracowanej przez firmę Keyence elektronice sterującej, a w szczególności dzięki nowemu czujnikowi obrazu CMOS o dużej czułości i zastosowaniu szybkiego procesora GP64.

Keyence od wielu lat specjalizuje się w produkcji czujników obrazu CMOS. Najnowszy typ czujnika – HSE3-CMOS charakteryzuje się większą szybkością działania i 64-krotnie szerszym zakresem dynamicznym od czujników stosowanych w najlepszych dotąd systemach 2D. Dzięki bardzo dużej czułości zapewnia on stabilny pomiar w przypadku obiektów ciemnych i połyskliwych. Pełnię możliwości prezentuje przy współpracy z szybkim procesorem GP64, obsługującym tryb przetwarzania potokowego. Profilografy LJ-V zapewniają szybkość działania 30-krotnie większą od najszybszych odpowiedników dostępnych dotąd na rynku. Rejestrują 12,8 miliona punktów na sekundę (64 tys. profili/s), zapewniając szybkość pomiarową 6,4 m/s z krokiem 0,1 mm. Precyzja i stabilność detekcji również przewyższają standardowe profilografy dostępne obecnie na rynku. W urządzeniach serii LJ-V7000 zastosowano niebieski laser, charakteryzujący się mniejszą średnicą plamki wynikającą z mniejszej długości fali, oraz soczewki 2D Ernostar, zapewniające maksymalne skupienie wiązki. Uzyskana dzięki temu wiązka o małej średnicy i dużej intensywności zapewnia stabilny i precyzyjny pomiar. Osiągnięta dokładność pozycjonowania wynosi ±7,6 μm, a powtarzalność 0,4 μm. Liniowość jest na poziomie 0,1 % pełnej skali. Zaletą niebieskiego lasera jest ponadto większa stabilność pomiaru w przypadku obiektów o wysokiej temperaturze, ponieważ dyfuzja powierzchniowa w mniejszym stopniu wpływa na wynik pomiaru niż w przypadku lasera czerwonego.

W nowych profilografach Keyence zastosowano podwójne źródło światła. Różnice natężenia światła odbierane przez detektor pozwalają wyeliminować problemy z odbiciami zakłócającymi pomiar. Funkcja ta, określana mianem podwójnej polaryzacji, jest unikalna w tego typu przyrządach. Zwiększa ona precyzję pomiaru w przypadku obiektów metalowych o złożonym profilu i zróżnicowanej strukturze powierzchni.

Zaletą profilografów serii LJ-V jest uproszczona implementacja. Udostępniają one 74 łatwe do skonfigurowania funkcje, pozwalające na wykonanie większości typowych pomiarów. Warto zaznaczyć, że na tym samym profilu może być wykonywanych równocześnie 16 różnych pomiarów. Kolejną innowacją wprowadzoną w serii LJ-V jest generacja obrazu 3D na bazie zmierzonych profili 2D. Nie ma potrzeby stosowania specjalistycznego programatora. Funkcja automatycznego dostrajania koryguje różnice położenia kolejnych przesuwających się na taśmie elementów. W trakcie pomiaru lub strojenia operator może obserwować na bieżąco wyniki na specjalnie opracowanym wyświetlaczu z ekranem dotykowym. Możliwe jest też podłączenie dowolnego zewnętrznego monitora. Profilografy serii LJ-V mają stopień ochrony IP67 i są kompatybilne z wymogami normy IEC 68229 w zakresie odporności na uderzenia. Mogą dzięki temu mierzyć części różnych rozmiarów, blisko procesu produkcyjnego.

Zakres zastosowań serii LJ-V obejmuje przemysł elektroniczny, obróbkę metali oraz produkcję części plastikowych i elastomerów. Urządzenia te zapewniają szybki zwrot kosztów z inwestycji.

www.keyence.com.pl

tel. 71 368 61 60

fax 71 368 61 62

e-mail: magazines@keyence.eu

źródło: Keyence